InstrumExpert Communauté des Instrumentistes Forum d'entraide pour les ingénieurs instrumentistes

Sur un US de toute façon le point faible sera toujours le couplan entre tuyauterie et transducteur, et ce point n'est jamais évaluié par aucun constructeur, alors on peut parler de MTBF, SIl et ce qu'on veut...

Les interrogtions concernant le MTBF sont pertinentes car ceux qui tentent d'en justifier la nature et l'ordre de grandeur sont souvent dans le flou... Tout d'abord réglons une question de vocabulaire: MTBF est la contraction de "mean time BETWEEN failures". Ce qui suppose implicitement qu'il s'agit d'un matériel réparable qui tombera en panne plusieurs fois au cours de sa durée de vie... En ce qui concerne votre Débimètre à US, je pense qu'il faut séparer 2 types de défaillances: - celles liées aux pannes "aléatoires" de la partie électronique: dans ce cas, comme la probabilité est très faible, il vaut mieux parler de taux de défaillance ( dimension 1/temps), qu'on assimile à l'inverse, non pas du MTBF, mais du MTTF "mean time TO failure". Dire par ex. que MTTF= 100 000 heures signifie que le taux de défaillance est 10-5 par heure, donc faible (typique de la technologie électronique), - celles liées au gel de couplage dont les propriétés se dégradent: ceci se traduit par des défaillances dites "par dérive": l'appareil fonctionne, mais ses performances métrologiques sont devenues insuffisantes. Dans ce cas, puisqu'il faut remplacer périodiquement le produit, on peut parler de MTBF, par ex. MTBF = 25 000 heures (environ 3 ans), Si l'on voulait caractériser la fiabilité de l'appareil, il conviendrait de combiner les fiabilités de ses différents composants: mais ceci nous entrainerait un peu au-delà de la question posée...