Sujet
Incertitude de mesure
il y a 10 ans
Bonjour,
Je vous donne une version simplifiée du problème auquel je suis confronté :
J'ai une machine qui sert à mesurer l'épaisseur d'une ligne sur le circuit de puces électroniques. J'ai trouvé un étalon chez NIST qui me permettrai de calibrer ma machine (ou au moins de vérifier si les mesures faites par cette machine ne sont pas biaisées).
Cet étalon (constitué d'une ligne de 30 nanomètres d'épaisseur) a évidemment une certaine incertitude (en réalité, la ligne fait 30 nanomètres plus ou moins quelque-chose).
Je dois connaitre cette incertitude car si j'ai une erreur (par exemple si ma machine me donne 32 nanomètres), il faut que je puisse déterminer si cette erreur est due à ma machine (il faudra alors revoir ses réglages) ou si elle est acceptable vue qu'elle ne dépasse pas l'incertitude de l'étalon.
Mon problème, c'est que le fabriquant de l'étalon (NIST) ne me donne pas la valeur brute (comme "30nm +ou- 1"). Il me donne seulement une valeur nommée "Expanded Uncertainty (k=2)" qui a pour valeur 2,60. Il précise que l'incertitude est calculée suivant le "U.S. Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM)". J'ai essayé de lire ce guide mais il décrit le mode de calcul sans expliquer comment l'exploiter.
Le fabriquant effectue une série de mesures sur l'étalon et j'ai cru comprendre que cette valeur de 2,60 correspondrait à 2 fois l'écart-type. Mais je ne suis guère avancé...
Avec ces chiffres, je suis incapable de déterminer le seuil à partir duquel je pourrai affirmer que mes machines sont biaisées.
Sauriez-vous m'indiquer la marche à suivre ?