BillyWells
Bonjour à tous!
Est ce que quelqu'un aurait déjà eu à réaliser une étude de dérive des équipements de mesure ou l'optimisation des intervalles de confirmation métrologique des équipements de mesure?
Si oui, Pourriez vous m'expliqué comment êtes vous parvenu à réaliser le calcul de la périodicité de vos équipements?
Merci, d'avance.
PS: Débutant en métrologie.
Bonjour,
Je pense qu'il faudrait que vous vous documentiez sur les fascicules FD X 07-14 et ILAC-G24 / OIML D 10.
Ces fascicules documente différentes méthodes d'optimisation de périodicité d'étalonnage selon l'utilisation et le besoin.
Personnellement j'utilise la méthode OPPERET du fascicule FD X 07-14 car j'ai des instruments très variés. La méthode de la dérive de ce même document convient plus aux gabarits, cales étalon etc... La méthode du rapport de périodicité impose d'avoir calculé les incertitudes des processus de mesure.
Le document de l'OIML donne des exemples également intéressant sur d'autres méthodes.
Bonjour
En effet, j’ai des recherches sur le sujet, lu le fascicules FD X 07-14 et également la comparaison avec la ILAC-G24 / OIML D 10.
Effectivement, ces fascicules documentent différentes méthodes d'optimisation de périodicité d'étalonnage selon l'utilisation et le besoin.
Personnellement la méthode OPPERET ou de la dérive du fascicule FD X 07-14 correspondent avec mes besoins.
Mais, mon problème c’est d’arriver à les appliquer, du fait que les démarches sont énoncées, mais pas détaillées, ni illustrées.
Exemple : dans la partie « 5.1.1.1 : Détermination de la dérive maximale (d) » du fascicules FD X 07-14, ils disent que la première étape consiste à modéliser suivant la méthode des moindres carrées, la dérive observée pour chaque équipement, ensuite ils donnent la formule de la droite des moindres carrés, mais ils ne disent pas les éléments à considérer pour déterminer cette dérive.
Est-ce qu’il faudrait prendre les valeurs, erreurs de mesure, EMT etc… se servir du certificat, fiche de vie, fiche de suivit.
Il se peut que ce soit moi qui n’arrive pas à comprendre, surement dû au fait que de mon DUT GEII et non MP.
Je pense qu’un ou plusieurs exemples types qui reprennent les principales méthodes énoncées étapes par étapes avec des cas pratiques pourraient mieux me guider voir même m’aiguillé.
Perso je n’ai pas pu avoir le document de l'OIML.
Pourriez-vous m’aidé ?
« JE SAIS QUE JE VOUS EN DEMANDE TROP »
Bonjour,
Pour le document de l'OIML il est visible gratuitement ci-dessous :
http://www.iec-ilac-iaf.org/doc/1007a.pdf
Ensuite pour l'analyse de la dérive il faut faire une courbe avec les écarts par rapport aux étalons (des étalonnages précédents) et tracer la droite des moindres carrés et estimer avec cette droite quand est-ce que la cale ou le gabarit atteindra la limite des EMT.
Pour la méthode OPPERET il faut lister les appareils, définir des critères (dérive, taux d'utilisation, ...), définir des pondérations de ces critères selon leurs importances, noter les appareils dans ces critères (en général de -2 à +2 qui correspond à +/-2 écart-type).
Il faut ensuite pondérer les notes puis redistribuer selon une loie normal puis additionner les notes et redistribuer selon une loi normal, ...
Soit beaucoup d'étapes difficiles à décrire ici.
Dans un annexe de la FD X 07-14 il y a les calculs de décrit. Sinon il y a un guide au CFM (collège français de métrologie) qui explique comment faire.
Et si avec tout cela vous n'y arrivez toujours pas, envoyez moi un MP.
Ok, très bien, merci pour votre aide,
faisons comme ça.
