InstrumExpert Communauté des Instrumentistes Forum d'entraide pour les ingénieurs instrumentistes

bonjours ; comment déduire du PFDavg l'intervalle de test périodique à réaliser sur un SIS? dois- je tenir compte du taux de pannes du procédé? merci d'avance........

Bonjour, Si on ne considère que les défaillances dangereuses non détectées et que le MTTR soit << devant le MTTF, en approximation : PFDavg = lambda d x T/2 (T étant l'intervalle de tests) donc T = 2PFDavg / lambda d Que vient faire le taux de pannes du procédé ? Où alors, il s'agit du taux de sollicitations du SIS : Si pour un dysfonctionnement du process donné la fréquence sans le SIS est de 10^-1/an (1 fois tous les 10 ans par exemple) et que la fréquence admissible doive être ramenée à 10^-3/an, il faudra par définition un SIS de SIL 2 donc un PFDavg < 10^-2 Noter que jouer sur l'intervalle de tests pour améliorer le SIL est un moyen limité : on ne peut pratiquement jamais gagner 1 SIL. Bon courage

merci beacoup mais en fait j'aimerais determiner l'intervalle de test du SIS . Que dois-je prendre comme valeur pour lambda d qui est propre a un instrument ? (le sis est un ensemble d'instruments). est ce la fréquence de disfonctionnement du proces sans le sis que je dois utiliser ?

Bonjour, Je n'avais pas ouvert cette boîte jusqu'à maintenant. Pas facile de connaître le lambda d'un instrument et pire son lambda-d (taux de défaillance dangereuse). Les constructeurs ne donnent rien d'intéressant, et on n'est qu'au début d'initiatives d'utilisateurs (chimistes, pétroliers) pour constituer des bases de données communes de défaillance. Chez nous, nous avons collecté quelques données, où l'on trouve que le MTTF des instruments est entre 10 et 50 ans, ce qui fait des lambda entre 10^-1 et 2.10^-2/an. Dans tous les cas, l'approche quantitative est assez décevante, et il ne faut pas espérer une estimation à mieux qu'un facteur 10 près (ce qui fait 1 SIL). Bon courage